激光拉曼光譜儀,PL光致發光是一種無損的測試方法，可以快速、便捷地表征半導體材料的帶隙檢測、缺陷、雜質以及材料的發光性能。譜的峰值波長、光譜半寬、積分光強、峰強度、熒光壽命與電子/空穴多種形式的輻射復合相關，雜質或缺陷濃度、組分等密切相關。

產品型號：NeoFlex-EDU

廠商性質：生產廠家

更新時間：2025-09-11

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PL光譜儀

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PL譜分析儀

PL光致發光是一種無損的測試方法，可以快速、便捷地表征半導體材料的帶隙檢測、缺陷、雜質以及材料的發光性能。譜的峰值波長、光譜半寬、積分光強、峰強度、熒光壽命與電子/空穴多種形式的輻射復合相關，雜質或缺陷濃度、組分等密切相關。

PL譜分析儀

譜元光電研發的NeoFlex-EDU PL譜分析儀，采用一體化分析儀器設計理念，內置集成了兩路激發光源切換使用，從而極大擴展了儀器的使用范圍，滿足不同材料激發需求，同時光譜儀采用低噪聲、高靈敏度的探測技術，保證了光譜分析的準確性。儀器面板布局簡約，各功能模塊位置醒目，便于使用者操作測試，無需調整光路，維護簡單，是一款非常適合教學或科研測試的分析儀器。

功能及特點

●一體化分析儀器，設計架構堅固耐用，保證儀器穩定測量性能

●內置雙激發波長，可切換使用

●分辨率及波長飄移上有優異的溫濕度、震動、與撞擊穩定性，溫度穩定性<0.04nm/℃

●C-T設計光譜儀光路，提供高分辨率，高靈敏度，低雜散光檢測性能

●快速PL譜測量能力，只需數秒出結果，最短積分時間可達0.1ms

●軟件操作簡單，界面人性化，易于上手

應用

●半導體材料發光

●化學/材料發光

●生物發光

●二維材料

PL譜分析儀

規格參數

名稱/型號	PL譜分析儀(型號：NeoFlex-EDU)
總體環境、電源要求
功能	PL譜測試、發光源測量
開機時間s	＜10
溫度穩定性nm/℃	<0.04
適用環境℃	儲存溫度-30 to +70 操作溫度0 to +50 環境濕度0% - 90%
電源要求V	220±10 AC
激發光源
UVLED255激發光源	中心波長λ=255nm LED，功率可單獨設置
UVLD405激發光源	中心波長λ=405nm LD，功率可單獨設置
光譜檢測
檢測范圍nm	180-1100
光學設計	C-T光學架構
光譜分辨率nm	＜2
波長重復性nm	±0.05（連續100次測量(汞-氬燈)）
積分時間ms	0.1-65000
檢測器	有效像素2048，大小14um*200um
通訊端口	USB
樣品室
設計結構	T型結構，2路激發，1路發射，帶保護上蓋，降低外界雜光干擾
濾光片	優質長波通濾光片，配插拔支架
適合樣品類型	各類半導體樣品，片狀、液體等
軟件
分析儀軟件	提供多種光學量測功能，PL譜測試、發光源測量，追蹤特定波長測量，可進行譜線標峰，譜半峰寬計算，數據可導出EXECL，TXT等格式